
eMMC 生命周期預測、驗證和測試
eMMC 算法可實現低寫入放大率。我們提供多種配置來均衡性能、使用壽命及可靠性。使用 EXT_CSD(所有 eMMC 設備共享的一項功能)中的 JEDEC 使用壽命預估工具監控設備的使用壽命。根據設備的耐久力以 10% 的增量報告使用壽命。一個工具報告 TLC 或 MLC 配置的 NAND 閃存塊的使用壽命,而其他工具報告偽 SLC 模式中配置的塊的使用壽命。
2024-03-30
NAND-FLASH顆粒芯片自動化測試方案
NAND-FLASH顆粒芯片自動化測試方案
1. 設計并搭建自動化測試平臺,包括測試設備、測試程序和數據分析工具。
2. 開發測試程序,覆蓋NAND-FLASH顆粒芯片的各項功能和性能指標。
3. 設計自動化測試流程,實現高效、準確地對芯片進行測試。
4. 運行自動化測試,收集數據并生成測試報告。
5. 分析測試結果,評估芯片性能并提出改進建議。
2024-03-29