eMMC 生命周期預測、驗證和測試

eMMC 算法可實現低寫入放大率。我們提供多種配置來均衡性能、使用壽命及可靠性。使用 EXT_CSD（所有 eMMC 設備共享的一項功能）中的 JEDEC 使用壽命預估工具監控設備的使用壽命。根據設備的耐久力以 10% 的增量報告使用壽命。一個工具報告 TLC 或 MLC 配置的 NAND 閃存塊的使用壽命，而其他工具報告偽 SLC 模式中配置的塊的使用壽命。

2024-03-30

NAND-FLASH顆粒芯片自動化測試方案

NAND-FLASH顆粒芯片自動化測試方案
1. 設計并搭建自動化測試平臺，包括測試設備、測試程序和數據分析工具。 
2. 開發測試程序，覆蓋NAND-FLASH顆粒芯片的各項功能和性能指標。
 3. 設計自動化測試流程，實現高效、準確地對芯片進行測試。
 4. 運行自動化測試，收集數據并生成測試報告。 
5. 分析測試結果，評估芯片性能并提出改進建議。

2024-03-29