本產(chǎn)品是參照 GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱相應(yīng)技術(shù)條件、GB/T
11158-2008 高溫試驗(yàn)箱相應(yīng)技術(shù)條件、GB/T2424.5 高低溫試驗(yàn)箱性
能試驗(yàn)相應(yīng)技術(shù)條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、
汽車(chē)（摩托車(chē)）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫度變
化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元
器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。

本產(chǎn)品是參照GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱相應(yīng)技術(shù)條件、GB/T
11158-2008 高溫試驗(yàn)箱相應(yīng)技術(shù)條件、GB/T2424.5 高低溫試驗(yàn)箱性能
試驗(yàn)相應(yīng)技術(shù)條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽
車(chē)（摩托車(chē)）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫度變化環(huán)
境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的
安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。

主機(jī)：可根據(jù)具體需求選取合適的主機(jī)型號(hào)，     這是整個(gè)控制系統(tǒng)的核心。
 測(cè)試頭前端：實(shí)現(xiàn)測(cè)試頭和待測(cè)芯片的連接以及能量傳導(dǎo)。測(cè)試架一方面起到固定的作用,另一方面也適用于沒(méi)有socket器件的測(cè)試。
干燥壓縮氣源：使用干燥壓縮氣源（一般是空氣或氮?dú)猓┑哪康氖且环矫娣乐沟蜏販y(cè)試環(huán)境產(chǎn)生冷凝水或結(jié)霜現(xiàn)象，另一方面是為氣動(dòng)系統(tǒng)提供壓力。可以根據(jù)使用場(chǎng)所的具體情況考慮合適的供氣方式。

       MD高低溫控制系統(tǒng)通過(guò)測(cè)試頭與DUT之間直接接觸，將DUT的溫度（殼溫或者結(jié)溫）調(diào)整到目標(biāo)溫度點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)的性能測(cè)試。同時(shí)適用于已焊接的芯片和使用
socket的芯片，可以真正做到只控制待測(cè)芯片溫度而不影響外圍電路，排除外圍電路引起的不確定性。
       該設(shè)備的作用是幫助客戶(hù)在半導(dǎo)體、電子和其他設(shè)備的開(kāi)發(fā)和制造過(guò)程中進(jìn)行溫度測(cè)試和驗(yàn)證。可以快速實(shí)現(xiàn)高低溫環(huán)境變化，工作效率極高，可以節(jié)省大量的研發(fā)時(shí)間。
      

廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體、芯片、傳感器、微電子等領(lǐng)域。在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害，減少測(cè)試與驗(yàn)證時(shí)間，快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。

熱流儀/超快速冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)應(yīng)用于5G通 信、半導(dǎo)體芯片、傳感器等領(lǐng)域。在短的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害，減少測(cè)試與驗(yàn)證時(shí)間，快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。