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熱流儀(超快速冷熱沖擊試驗機(jī))
熱流儀/超快速冷熱沖擊試驗機(jī)應(yīng)用于5G通 信、半導(dǎo)體芯片、傳感器等領(lǐng)域。在短的時間內(nèi)檢測樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害,減少測試與驗證時間,快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。¥ 0.00Learn more >>
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DDR 4顆寬溫BIT老化柜
整合了 CPU/內(nèi)存Stress,ECC check, MCE check, SPD DATA Dump的一站式測試方案。
多種配置組合,適應(yīng)用戶不同使用場景,如研發(fā)中心SIT測試,研發(fā)團(tuán)隊硬件匹配性測試,工廠測試,RMA維修,進(jìn)料檢。
DDR內(nèi)存測試是非常重要的,可以確保計算機(jī)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和性能。在進(jìn)行DDR內(nèi)存測試時,需要使用專業(yè)的測試工具和軟件來檢測內(nèi)存的速度、容量和穩(wěn)定性。通過定期進(jìn)行DDR內(nèi)存測試,可以及時發(fā)現(xiàn)并解決內(nèi)存問題,確保系統(tǒng)運行的順暢和穩(wěn)定。DDR內(nèi)存測試還可以幫助用戶評估內(nèi)存的性能,選擇適合自己需求的內(nèi)存產(chǎn)品。¥ 0.00Learn more >>
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EMMC 4顆寬溫BIT老化柜
近幾年EMMC應(yīng)用領(lǐng)域從手機(jī)應(yīng)用延伸到IOT、工業(yè)、醫(yī)療甚至是車用電子。這個微小的芯片中,儲存了許多重要的數(shù)據(jù),在面對各種不同的應(yīng)用場景時,芯片的可靠度、衰老以及對于工作環(huán)境溫度的穩(wěn)定性也變得極為重要。
如何確保產(chǎn)品所使用的EMMC與UFS能夠在這些艱難的環(huán)境下提供穩(wěn)定的功能與效能表現(xiàn)也成為工程師極為關(guān)注的項目。¥ 0.00Learn more >>
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Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化箱
Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化柜可以通過物理測試和邏輯測試方法,讀取到 NAND Flash 閃存芯片的真實性能參數(shù),實時地測試閃存顆粒的各類特性,并一鍵導(dǎo)出測試報告,同時Flash-Nand 4顆寬溫BIT老化柜可依據(jù)不同測試場景需求,提供基礎(chǔ)測試(實現(xiàn)閃存質(zhì)量分級)、實驗測試(對閃存顆粒實際壽命進(jìn)行預(yù)測,可輸出對比報告)、高階測試(自由選擇測試 pattern,設(shè)置測試條件,實現(xiàn)對顆粒性能的測試分析)。¥ 0.00Learn more >>
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SATA 800片高溫RDT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品量產(chǎn)階段數(shù)量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試,實時測控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。在高溫RDT老化測試過程中,可以準(zhǔn)確監(jiān)測產(chǎn)品的性能表現(xiàn),確保其在量產(chǎn)階段能夠穩(wěn)定可靠地運行。同時,實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點,提前進(jìn)行必要的維護(hù)和調(diào)整,從而提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量和可靠性。擴(kuò)展實時監(jiān)測電流與功耗也能有效評估產(chǎn)品的能效表現(xiàn),為后續(xù)的優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。¥ 0.00Learn more >>
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SATA 300片高溫RDT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品量產(chǎn)階段數(shù)量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試,實時測控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。
在高溫RDT老化測試過程中,可以準(zhǔn)確監(jiān)測產(chǎn)品的性能表現(xiàn),確保其在量產(chǎn)階段能夠穩(wěn)定可靠地運行。同時,實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點,提前進(jìn)行必要的維護(hù)和調(diào)整,從而提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量和可靠性。擴(kuò)展實時監(jiān)測電流與功耗也能有效評估產(chǎn)品的能效表現(xiàn),為后續(xù)的優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。¥ 0.00Learn more >>
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EMMC,UFS 性能測試FPGA板卡
測試產(chǎn)品通道數(shù)量:1 顆
產(chǎn)品兼容:三星,東芝,海力士,長江存儲,鎂光。¥ 0.00Learn more >>
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PCIE-AIC (GEN3,GEN4) 1拖4帶性能測試板卡
測試產(chǎn)品通道數(shù):4 Port。
接口:AIC (GEN3,GEN4)。¥ 0.00Learn more >>
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IC 應(yīng)力篩選綜合測試系統(tǒng)
涂層、材料或線頭上各種微觀裂紋擴(kuò)大檢測|粘接不好的接頭松馳檢測|使螺釘連接或鉚接不當(dāng)?shù)慕宇^松馳檢測|使機(jī)械張力不足的壓配接頭松馳檢測|合質(zhì)量差的焊點接觸電阻加大或造成開路檢測|密封失效檢測。¥ 0.00Learn more >>