熱流儀/超快速冷熱沖擊試驗機(jī)應(yīng)用于5G通 信、半導(dǎo)體芯片、傳感器等領(lǐng)域。在短的時間內(nèi)檢測樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害，減少測試與驗證時間，快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。

整合了 CPU/內(nèi)存Stress，ECC check, MCE check, SPD DATA Dump的一站式測試方案。
多種配置組合，適應(yīng)用戶不同使用場景，如研發(fā)中心SIT測試，研發(fā)團(tuán)隊硬件匹配性測試，工廠測試，RMA維修，進(jìn)料檢。
DDR內(nèi)存測試是非常重要的，可以確保計算機(jī)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和性能。在進(jìn)行DDR內(nèi)存測試時，需要使用專業(yè)的測試工具和軟件來檢測內(nèi)存的速度、容量和穩(wěn)定性。通過定期進(jìn)行DDR內(nèi)存測試，可以及時發(fā)現(xiàn)并解決內(nèi)存問題，確保系統(tǒng)運行的順暢和穩(wěn)定。DDR內(nèi)存測試還可以幫助用戶評估內(nèi)存的性能，選擇適合自己需求的內(nèi)存產(chǎn)品。

近幾年EMMC應(yīng)用領(lǐng)域從手機(jī)應(yīng)用延伸到IOT、工業(yè)、醫(yī)療甚至是車用電子。這個微小的芯片中，儲存了許多重要的數(shù)據(jù)，在面對各種不同的應(yīng)用場景時，芯片的可靠度、衰老以及對于工作環(huán)境溫度的穩(wěn)定性也變得極為重要。
如何確保產(chǎn)品所使用的EMMC與UFS能夠在這些艱難的環(huán)境下提供穩(wěn)定的功能與效能表現(xiàn)也成為工程師極為關(guān)注的項目。

Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化柜可以通過物理測試和邏輯測試方法，讀取到 NAND Flash 閃存芯片的真實性能參數(shù)，實時地測試閃存顆粒的各類特性，并一鍵導(dǎo)出測試報告，同時Flash-Nand 4顆寬溫BIT老化柜可依據(jù)不同測試場景需求，提供基礎(chǔ)測試（實現(xiàn)閃存質(zhì)量分級）、實驗測試（對閃存顆粒實際壽命進(jìn)行預(yù)測，可輸出對比報告）、高階測試（自由選擇測試 pattern，設(shè)置測試條件，實現(xiàn)對顆粒性能的測試分析）。

應(yīng)用于SATA產(chǎn)品量產(chǎn)階段數(shù)量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。在高溫RDT老化測試過程中，可以準(zhǔn)確監(jiān)測產(chǎn)品的性能表現(xiàn)，確保其在量產(chǎn)階段能夠穩(wěn)定可靠地運行。同時，實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點，提前進(jìn)行必要的維護(hù)和調(diào)整，從而提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量和可靠性。擴(kuò)展實時監(jiān)測電流與功耗也能有效評估產(chǎn)品的能效表現(xiàn)，為后續(xù)的優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。

應(yīng)用于SATA產(chǎn)品量產(chǎn)階段數(shù)量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。
在高溫RDT老化測試過程中，可以準(zhǔn)確監(jiān)測產(chǎn)品的性能表現(xiàn)，確保其在量產(chǎn)階段能夠穩(wěn)定可靠地運行。同時，實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點，提前進(jìn)行必要的維護(hù)和調(diào)整，從而提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量和可靠性。擴(kuò)展實時監(jiān)測電流與功耗也能有效評估產(chǎn)品的能效表現(xiàn)，為后續(xù)的優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。

測試產(chǎn)品通道數(shù)量：1 顆
產(chǎn)品兼容：三星，東芝，海力士，長江存儲，鎂光。

測試產(chǎn)品通道數(shù)：4 Port。
接口：AIC （GEN3,GEN4)。

涂層、材料或線頭上各種微觀裂紋擴(kuò)大檢測｜粘接不好的接頭松馳檢測｜使螺釘連接或鉚接不當(dāng)?shù)慕宇^松馳檢測｜使機(jī)械張力不足的壓配接頭松馳檢測｜合質(zhì)量差的焊點接觸電阻加大或造成開路檢測｜密封失效檢測。