PCT試驗箱廣泛應用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等產品材料測試其制品的耐壓性、氣密性的試驗設備。主要是提高環境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。該設備主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

高壓加速老化試驗機是提高環境應力與工作應力(施加給產品的電壓、負荷）等，加快試驗過程，縮短產品或系統壽命試驗時間的機器。
用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。