SATA@PCIe二合一 智能化測試系統采用 Win10 操作系統平臺，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA@PCIe二合一產品的測試項目，通過 LINUX 系統和網路交換機進行數據傳輸，實現一鍵式操作，網絡化控制，節省人工， 實現智能化數據管理，永久保留測試結果。

閃存芯片智能測試系統是一種可以量身定制測試方案、支持多種型號閃存顆 粒并行測試的綜合閃存測試系統，系統可提供寬溫測試環境，并行測試閃存顆粒種類最 多可達 64 種，并行測試閃存顆粒數量最多可達 512 顆。
閃存芯片智能測試系統支持多種測試 pattern 及自定義測試參數功能，可提 供一鍵式基礎測試流程和高靈活性的高階測試流程，不僅可以實現閃存顆粒剩余壽命預 測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，還能夠幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠 性狀態，完成測試后可以方便快捷地一鍵導出測試報告，為客戶提供最直觀精確的圖形 化測試數據，為閃存顆粒的等級分類和應用提供最直觀的數據參考，并基于閃存顆粒品 質檢測結果實現智能分級。

PCIE M.2高低溫BIT智能測試箱具有高低溫測試功能，可確保PCIE M.2的盤在各種環境溫度條件下的測試其穩定性和可靠性。同時，它還支持BIT功能，可以快速診斷和定位故障，提高測試效率和準確性。這款智能測試箱是PCIE M.2盤量產測試設備的理想選擇。它支持PCIE NVMe GEN3、GEN4盤的高低溫及BIT測試。

SATA 高低溫BIT智能測試箱具有高低溫測試功能，可確保SATA盤在各種環境溫度條件下的測試其穩定性和可靠性。同時，它還支持BIT功能，可以快速診斷和定位故障，提高測試效率和準確性。這款智能測試箱是SATA盤量產測試設備的理想選擇。

NAND-FLASH 芯片BGA高溫RDT老化柜是一種專門用于測試和評估芯片在高溫環境下的穩定性和性能的設備。這種老化柜能夠模擬出極端的工作條件，幫助制造商在產品上市前發現潛在的問題并進行改進。通過在老化柜中進行長時間的測試，可以確保芯片在實際應用中能夠穩定可靠地運行。

可用于SSD產品PCIE-M.2盤進行RDT老化測試， "PID溫度控制器，配SSR輸出； 超溫保護，接地保護，風機過載保護； 雙開門，大面積鋼化玻璃觀察窗，可觀察工作室狀況，內置保溫層； 一拖八PCIE接口獨立開關控制板卡； 履帶式抽拉抽屜，12V 360W控制電源，耐高溫線；

應用于SATA產品量產階段數量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監測產品的電流與功耗。
在高溫RDT老化測試過程中，可以準確監測產品的性能表現，確保其在量產階段能夠穩定可靠地運行。同時，實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點，提前進行必要的維護和調整，從而提高產品的整體質量和可靠性。擴展實時監測電流與功耗也能有效評估產品的能效表現，為后續的優化提供數據支持。

應用于SATA產品量產階段數量多的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監測產品的電流與功耗。在高溫RDT老化測試過程中，可以準確監測產品的性能表現，確保其在量產階段能夠穩定可靠地運行。同時，實時測控表面老化溫度可以幫助識別潛在的故障點，提前進行必要的維護和調整，從而提高產品的整體質量和可靠性。擴展實時監測電流與功耗也能有效評估產品的能效表現，為后續的優化提供數據支持。