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一﹑設(shè)備功能概述:
1、BGA 老化板 26 套,每套放 64 顆 BGA132 顆粒,滿載測試即 1664 顆;
2、電源 AC/DC12V 650W,64 顆,可以滿足每顆產(chǎn)品功率:5V,2A 測試;
3、每塊老化板卡可以獨力推拉式來切換的,可以實現(xiàn)在爐箱外拆裝顆粒;
4、內(nèi)部溫度熱風(fēng)循環(huán),由左右兩側(cè)進,中間頂部回風(fēng);
5、左右兩邊具有全自動新風(fēng)進風(fēng)口,內(nèi)箱產(chǎn)品溫度超溫時,中間抽風(fēng)機強
制抽風(fēng);
6、內(nèi)箱溫度監(jiān)控點 4 路,上中下局部顯示,主控溫度點 1 路;
二﹑老化板:

三﹑RDT 老化試驗箱內(nèi)部風(fēng)循環(huán)結(jié)構(gòu)尺寸圖:

此圖僅為示意圖,1664 顆具體尺寸見設(shè)備最終定稿圖紙。
四、老化柜控制方式與特色:
1、性能:平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC),以 PID 方式控制 SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩(wěn)定使用。
2、溫度范圍: RT+15℃~100℃
3、溫度波動度:±1℃
4、溫度均勻度:空載±2℃,帶載后±5℃
5、升溫速率:5℃/min
(室溫+5℃∽100℃±2℃)
6、時間設(shè)定:0~9999H 可以任意設(shè)定
五、機器尺寸:
1、內(nèi)部尺寸:1100×600×1430mm (W×D×H)(實際會有差異,以最后定稿尺寸為準(zhǔn))
2、外部尺寸約:1500×1130×2060mm (W×D×H) (實際會有差異,以最后定稿尺寸為準(zhǔn))
六、機器板金結(jié)構(gòu):
1、內(nèi)箱材質(zhì):采用 SUS # 304 足 1.2 厚不銹鋼板
2、外箱材質(zhì):冷軋鋼板,鍍鋅防銹處理,外附高級樹脂烤漆涂裝
3、保溫材質(zhì):硬質(zhì)進口巖棉(西斯?fàn)?120K 巖棉)
4.加熱器:鰭片式散熱管形不銹鋼電熱器(臺灣臺展鎳鉻合金絲)
七、送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng):
1、循環(huán)馬達 2 臺(臺灣高溫馬達)
2、直徑Ø19 加長不繡鋼軸心長度 180mm
3、10.5 寸多翼式耐高溫風(fēng)輪(名廠特殊定制)
4、風(fēng)口可調(diào)式側(cè)吹出風(fēng)口及回風(fēng)口加裝防護網(wǎng)
5、風(fēng)道地部內(nèi)有冷空氣輸入口,自動氣動閥門控制
6、超溫強制排風(fēng)鼓風(fēng)機強排裝置
八、開門方式:
1、箱門:雙開門,把手在中間,兩個測溫區(qū),控溫方式共用一主控系統(tǒng)
九、電路控制系統(tǒng):
1、溫度控制器:原裝臺灣維靈 LCD 可程式溫度控制器,帶 PC 通訊功能
2、畫面顯示功能:溫度設(shè)定(SV)與實際(PV)值直接顯示
3、傳感器:高精度臺灣松啟 PT100 型感溫器
4、溫度控制:輸出功率由微電腦演算,以達到高精度控制效果
5、計時功能:0-9999H/M/S。附長時間計時,恒溫計時,不定時選擇開關(guān)和時間到自動停止功能
產(chǎn)品詳情
熱門產(chǎn)品
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電磁式振動臺YC X 300
電磁式振動試驗機在實驗室條件下模擬振動環(huán)境,測試各種振動試驗應(yīng)用領(lǐng)域中的沖擊強度和可靠性。¥ 0.00Buy now
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HAST高壓加速老化試驗機
高壓加速老化試驗機是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷)等,加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)壽命試驗時間的機器。
用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。¥ 0.00Buy now
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SATA 12片寬溫BIT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試,實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。¥ 0.00Buy now
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SATA 6片寬溫BIT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高低溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試,實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。¥ 0.00Buy now
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PCIE-M.2 512片RDT老化柜
可用于SSD產(chǎn)品PCIE-M.2盤進行RDT老化測試, "PID溫度控制器,配SSR輸出; 超溫保護,接地保護,風(fēng)機過載保護; 雙開門,大面積鋼化玻璃觀察窗,可觀察工作室狀況,內(nèi)置保溫層; 一拖八PCIE接口獨立開關(guān)控制板卡; 履帶式抽拉抽屜,12V 360W控制電源,耐高溫線;¥ 0.00Buy now
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Flash-Nand 8顆性能測試FPGA板卡
測試產(chǎn)品通道數(shù)量:8 顆。
產(chǎn)品兼容:三星,東芝,海力士,長江存儲,鎂光。¥ 0.00Buy now