Flash-Nand 8顆性能測(cè)試FPGA板卡

電磁式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)在實(shí)驗(yàn)室條件下模擬振動(dòng)環(huán)境，測(cè)試各種振動(dòng)試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域中的沖擊強(qiáng)度和可靠性。

高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷）等，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)壽命試驗(yàn)時(shí)間的機(jī)器。
用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高溫RDT老化測(cè)試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測(cè)試，實(shí)時(shí)測(cè)控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的電流與功耗。

應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高低溫RDT老化測(cè)試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測(cè)試，實(shí)時(shí)測(cè)控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的電流與功耗。

可用于SSD產(chǎn)品PCIE-M.2盤進(jìn)行RDT老化測(cè)試， "PID溫度控制器，配SSR輸出； 超溫保護(hù)，接地保護(hù)，風(fēng)機(jī)過載保護(hù)； 雙開門，大面積鋼化玻璃觀察窗，可觀察工作室狀況，內(nèi)置保溫層； 一拖八PCIE接口獨(dú)立開關(guān)控制板卡； 履帶式抽拉抽屜，12V 360W控制電源，耐高溫線；

測(cè)試產(chǎn)品通道數(shù)量：8 顆。
產(chǎn)品兼容：三星，東芝，海力士，長江存儲(chǔ)，鎂光。