桌上型快速冷熱沖擊試驗機

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MD高低溫控制系統通過測試頭與DUT之間直接接觸，將DUT的溫度（殼溫或者結溫）調整到目標溫度點進行相應的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用
socket的芯片，可以真正做到只控制待測芯片溫度而不影響外圍電路，排除外圍電路引起的不確定性。
該設備的作用是幫助客戶在半導體、電子和其他設備的開發和制造過程中進行溫度測試和驗證。可以快速實現高低溫環境變化，工作效率極高，可以節省大量的研發時間。

設備名稱	TEC快速冷熱沖擊試驗機
設備型號	YC-20F
性能技術指標
溫度范圍	-55℃～＋150℃
控制精度	±1.0℃
溫度設定及顯示精度	0.1℃
DUT全自動壓力控制	2kg-18kg/Force +/-1 kg
內置氣壓控制	6-8kg/cm
外箱尺寸	280265520mm(WHD)
DUT尺寸	From 2x2mm to 40x40mm
溫度變化速度	25°C to -40°C in < 1.5min,
	25°C to 125°C in < 1 min
溫度控制	氣體溫度與樣品溫度可選擇測控。
溫度傳感器	A級T型熱電偶
操作界面	觸摸屏工業級系統, 穩定性更高
操作方式	程序方式、定值方式
狀態顯示	溫度設定并實時顯示
數據存儲	數據檔可以存儲在優盤中
數據圖表	帶有時間/溫度圖表
數據記錄	數據可以記錄到檔或轉存計算機中
通訊接口	RS232/RS485/TCP,可追加GPIB
校準方式	手動/軟件校準
供給氣體干燥度	溫度20~25，露點-70以下氣體或N2
供給氣體	壓力：<0.5cfm (1.5-3.0 PSI)
電源	AC220V 50HZ/10A
支持的封裝形式	BGA •FCBGA •LGA •QFN •QFP •CSP •WLCSP •Bare Die •and more
運行功率	600W左右