-
回到頂部
-
400-1017-871
-
微信二維碼

|
功能介紹 |
|
|
測試產(chǎn)品通道數(shù)量 |
6 Port |
|
接口 |
SATA2.0,SATA2.5,SATA3.0,M.2,NVME,MSATA |
|
測試溫度范圍
|
支持寬溫(-70℃~120℃)帶電測試 |
|
|
供電電壓DC12V |
|
環(huán)境溫度 |
-70 ~ 120(誤差+/-2%) |
|
測試項(xiàng)目 |
監(jiān)控每通道電壓,電流 |
|
|
監(jiān)控每通道產(chǎn)品功耗 |
|
|
每個(gè)產(chǎn)品獨(dú)立上下電 |
|
|
產(chǎn)品同時(shí)電壓(10%范圍)拉偏 |
|
|
隨機(jī)讀寫 |
|
|
協(xié)議驗(yàn)證 |
|
|
物理映射表驗(yàn)證 |
|
|
數(shù)據(jù)壓力驗(yàn)證 |
|
|
時(shí)鐘延時(shí) |
|
|
復(fù)位測試 |
|
|
支持開源軟件的讀寫 |
|
通訊方式 |
RS232 |
|
測試速率 |
520M/s |
產(chǎn)品詳情
熱門產(chǎn)品
-
電磁式振動(dòng)臺(tái)YC X 300
電磁式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)在實(shí)驗(yàn)室條件下模擬振動(dòng)環(huán)境,測試各種振動(dòng)試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域中的沖擊強(qiáng)度和可靠性。¥ 0.00Buy now
-
HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)
高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷)等,加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)壽命試驗(yàn)時(shí)間的機(jī)器。
用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。¥ 0.00Buy now
-
SATA 12片寬溫BIT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試,實(shí)時(shí)測控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。¥ 0.00Buy now
-
SATA 6片寬溫BIT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高低溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試,實(shí)時(shí)測控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。¥ 0.00Buy now
-
PCIE-M.2 512片RDT老化柜
可用于SSD產(chǎn)品PCIE-M.2盤進(jìn)行RDT老化測試, "PID溫度控制器,配SSR輸出; 超溫保護(hù),接地保護(hù),風(fēng)機(jī)過載保護(hù); 雙開門,大面積鋼化玻璃觀察窗,可觀察工作室狀況,內(nèi)置保溫層; 一拖八PCIE接口獨(dú)立開關(guān)控制板卡; 履帶式抽拉抽屜,12V 360W控制電源,耐高溫線;¥ 0.00Buy now
-
Flash-Nand 8顆性能測試FPGA板卡
測試產(chǎn)品通道數(shù)量:8 顆。
產(chǎn)品兼容:三星,東芝,海力士,長江存儲(chǔ),鎂光。¥ 0.00Buy now