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儀器特點:
1、快速溫度變化試驗箱是一種能施加溫度應(yīng)力且能實現(xiàn)在期望溫度值間快速變化(如+85~-35℃溫度區(qū)間,升降溫速率為平均5℃/min)的試驗箱,由制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)、傳感器系統(tǒng)等組成。
2、快速溫變化試驗箱具有較大的溫度控制范圍,能提供:高低溫快速變化試驗,一次或多次溫度變化試驗(循環(huán));快速溫度變化試驗箱還可單獨進行低溫(超低溫)及高溫恒溫試驗。
3、快溫變化試驗箱采用了完美的造型設(shè)計,外觀具備優(yōu)異的質(zhì)感,美觀大氣,結(jié)實耐用。
4、控制系統(tǒng)采用快速溫度變化試驗專用控制系統(tǒng),擴展性強,全中文人機對話,操作簡單,控制精確,穩(wěn)定可靠。
技術(shù)參數(shù):
| 性能指標(biāo) | 溫度范圍 | -70℃~150℃ |
| 波動 | ≤±0.5℃ | |
| 均勻度 | +2℃-3℃ | |
| 升溫時間 | 非線性5℃/min(平均),可以非標(biāo)定制10℃/min、20℃/min | |
| 降溫時間 | 非線性5℃/min(平均),可以非標(biāo)定制10℃/min、20℃/min | |
| 升溫速率 | 詳解:即在規(guī)定時間內(nèi)達(dá)到升降溫范圍內(nèi)。不限制每分鐘的升降溫速率 | |
| 溫濕度運行控制系統(tǒng) | 控制器 | 彩色觸摸屏 |
| 溫濕度傳感器 | 鉑金電阻 PT100Ω/MV | |
| 加熱系統(tǒng) | 全獨立系統(tǒng),鎳鉻合金電加熱式加熱器 | |
| 制冷系統(tǒng) | 美國谷輪/德國比澤爾壓縮機 | |
| 循環(huán)系統(tǒng) | 耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風(fēng)輪 | |
| 使用材料 | 外箱材質(zhì) | 優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理 |
| 內(nèi)箱材質(zhì) | SUS304不銹鋼優(yōu)質(zhì)鏡面光板 | |
| 保溫材質(zhì) | 聚胺脂硬質(zhì)發(fā)泡、超細(xì)玻璃纖維綿 | |
| 門框隔熱 | 雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 多層加熱觸霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔(25、50mm)1個 | |
| 安全保護 | 漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護 | |
| 電源電壓 | AC380V±10% 50±0.5Hz 三相五線制 | |
| 使用環(huán)境溫度 |
5℃~+30℃ ≤85%R.Ht |
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箱體內(nèi)部尺寸:根據(jù)客戶要求定制,80L-1000L
檢測標(biāo)準(zhǔn):
- GB/T2423.22-2002《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分 試驗N:溫度變化》
- IEC 60068-2-14:1984《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分 試驗N:溫度變化》(修正件1:1986)
- GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A低溫(idt IEC 60068-2-1:1990)
- GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗B高溫(idt IEC 60068-2-2:1974)
- GB/T2423.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度變化試驗導(dǎo)則(idt IEC 60068-2-33:1971)
- IEC600682-33:1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度變化試驗導(dǎo)則
- GB/T 2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn)
產(chǎn)品詳情
熱門產(chǎn)品
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電磁式振動臺YC X 300
電磁式振動試驗機在實驗室條件下模擬振動環(huán)境,測試各種振動試驗應(yīng)用領(lǐng)域中的沖擊強度和可靠性。¥ 0.00Buy now
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HAST高壓加速老化試驗機
高壓加速老化試驗機是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷)等,加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)壽命試驗時間的機器。
用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。¥ 0.00Buy now
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SATA 12片寬溫BIT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試,實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。¥ 0.00Buy now
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SATA 6片寬溫BIT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高低溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試,實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監(jiān)測產(chǎn)品的電流與功耗。¥ 0.00Buy now
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PCIE-M.2 512片RDT老化柜
可用于SSD產(chǎn)品PCIE-M.2盤進行RDT老化測試, "PID溫度控制器,配SSR輸出; 超溫保護,接地保護,風(fēng)機過載保護; 雙開門,大面積鋼化玻璃觀察窗,可觀察工作室狀況,內(nèi)置保溫層; 一拖八PCIE接口獨立開關(guān)控制板卡; 履帶式抽拉抽屜,12V 360W控制電源,耐高溫線;¥ 0.00Buy now
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Flash-Nand 8顆性能測試FPGA板卡
測試產(chǎn)品通道數(shù)量:8 顆。
產(chǎn)品兼容:三星,東芝,海力士,長江存儲,鎂光。¥ 0.00Buy now