sata@pcie八接口二合一主板

配套我們的上位機及下位機進行各種性能測試如下：

TestPC 概述

Test PC 主要用于測試 SSD  的正常和異常的上下電、讀寫壓力、數據比對、全盤讀寫、指定Pattern 對介質的老化測試、新增壞塊的統計和協議測試等等；

Test PCT  主要分為如下幾種PCT 、BIT 、MDT 、FDS。

PCT（Power Cycling Test）：各種 Pattern異常斷電測試，測試 SSD算法的斷電處理和重建，驗證異常斷電時對數據的完整性。

BIT（Burn-In Test)：驗證各種Pattern順序或隨機讀/寫是否正常，以及各種Pattern對媒介的影響。

MDT（Multi-Drive Test）：驗證SSD支持NVMe協議的命令集合，對SSD發送NVMe協議中的命令，并確認結果有無問題。

FDS（Full Drive Scan ）：對SSD進行的全盤讀寫操作，驗證映射表是否正確；

Test PC詳細功能

Test PC  的詳細功能分為如下四部分

      PCT  （Power Cycling Test）

    各種Pattern  的配置；

    讀/寫數據大小的配置；

    順序與隨機讀寫比對配置；

 驗證異常斷電與正常斷電數據完整性； 

 腳本控制上電與斷電時間；

 指定LBA 的數據讀/寫操作；

 測試SSD算法的斷電處理與重建；

                 測試盤的穩定性與電容負載需求值；

    測試盤啟動的時間；

 測試產品電源管理功能的穩定性； 

 高低溫下測試板級電子元器件焊接情況；

 可以用于驗證市面上斷電保護SSD產品的情況；     

 驗證SSD對各種主板的兼容性；

 自動保存測試Log  并且定時上傳；

     BIT  （Burn-In Test）

 統計各種Pattern對媒介的影響；

 產品各種Patten 的老化測試；

 全盤并且所有Pattern 自動測試；

    塊大小和Pattern 可以在腳本中配置；

 可以設定測試時間；

 測試過程中統計新增壞塊（需要在Smart信息中配置這個功能）；

 自動保存測試Log  并且定時上傳；

    MDT （ Multi Drive Test）

    塊大小可配置；

 驗證產品接口協議的兼容性；

 驗證產品對協議規定命令支持情況，并對其進行統計； 

 可以指定命令對產品進行相關測試；

 驗證DATA  命令的讀/寫操作，并且對數據進行比對；    

 驗證No-Data命令支持的情況；

     自動保存測試Log  并且定時上傳；

   FDS  (Full Drive Scan)

 全盤讀寫操作，驗證盤映射表的正確性，并進行比對操作；

    Pattern和塊大小可配置；

 可設置時間進行讀/寫操作；

                  自動保存測試Log  并且定時上傳；