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產品說明
提供5種內存測試算法組合,適應不同測試場景,至多支持32種測試算法。測試算法覆蓋內存可能存在的各種故障和瑕疵, 包括: 地址解碼錯誤 內存記憶單元錯誤(single-cell fault/ couple fault/ Pattern Sensitive Fault) 讀寫功能模塊錯誤 ECC錯誤 MCE 錯誤。
整合測試方案主要功能
測試精確: 基于物理內存地址的By Slot Test
快速定位: Fail DIMM精確定位到主板上的位置及DIMM SN
效率: 高效測試,滿足產能要求
配置靈活: 適應不同使用場景
支持最新硬件平臺:Purley Platform, DDR4內存,OS識別的內存即可測試。
易于整合: 運行環境為Linux 系統
ECC錯誤檢測: report fail 內存ECC count并可配置ECC fail 容錯率
SPD dump: Dump DDR3/DDR4 256/512 raw data 并解析主要字段
MCE錯誤檢測:CPU持續加壓,可report MCE error

產品詳情
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