PCIE M.2高低溫BIT智能測試箱具有高低溫測試功能，可確保PCIE M.2的盤在各種環境溫度條件下的測試其穩定性和可靠性。同時，它還支持BIT功能，可以快速診斷和定位故障，提高測試效率和準確性。這款智能測試箱是PCIE M.2盤量產測試設備的理想選擇。它支持PCIE NVMe GEN3、GEN4盤的高低溫及BIT測試。

應用于SATA產品研發階段數量少的高低溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監測產品的電流與功耗。

應用于SATA產品研發階段數量少的高溫RDT老化測試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測試，實時測控表面老化溫度。
可擴展實時監測產品的電流與功耗。

Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化柜可以通過物理測試和邏輯測試方法，讀取到 NAND Flash 閃存芯片的真實性能參數，實時地測試閃存顆粒的各類特性，并一鍵導出測試報告，同時Flash-Nand 4顆寬溫BIT老化柜可依據不同測試場景需求，提供基礎測試（實現閃存質量分級）、實驗測試（對閃存顆粒實際壽命進行預測，可輸出對比報告）、高階測試（自由選擇測試 pattern，設置測試條件，實現對顆粒性能的測試分析）。

近幾年EMMC應用領域從手機應用延伸到IOT、工業、醫療甚至是車用電子。這個微小的芯片中，儲存了許多重要的數據，在面對各種不同的應用場景時，芯片的可靠度、衰老以及對于工作環境溫度的穩定性也變得極為重要。
如何確保產品所使用的EMMC與UFS能夠在這些艱難的環境下提供穩定的功能與效能表現也成為工程師極為關注的項目。

整合了 CPU/內存Stress，ECC check, MCE check, SPD DATA Dump的一站式測試方案。
多種配置組合，適應用戶不同使用場景，如研發中心SIT測試，研發團隊硬件匹配性測試，工廠測試，RMA維修，進料檢。
DDR內存測試是非常重要的，可以確保計算機系統的穩定性和性能。在進行DDR內存測試時，需要使用專業的測試工具和軟件來檢測內存的速度、容量和穩定性。通過定期進行DDR內存測試，可以及時發現并解決內存問題，確保系統運行的順暢和穩定。DDR內存測試還可以幫助用戶評估內存的性能，選擇適合自己需求的內存產品。