SATA 12片寬溫BIT老化柜

技術(shù)參數(shù)

1、性能：平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTC），以 PID 方式控制 SSR，使系統(tǒng)之 加熱量等于熱損耗量，故能長期穩(wěn)定使用；

2、溫度范圍： -70℃～150℃；

3、溫度波動度：±0.5℃； 

4、溫度均勻度：±2℃； 

5、升溫速率：5℃/min （室溫～150℃±2℃）；

6、時間設(shè)定:0~999H 可以任意設(shè)定；

7、實時監(jiān)測產(chǎn)品表面溫度；

測試軟件功能

主要用于測試SSD的斷電、大量讀/寫比對、全盤讀/寫、指定 Pattern 對媒介的老化測試、新增壞塊的統(tǒng)計和協(xié)議測試等等；主要分為這幾種 PCT 、BIT 、MDT 與 FDS。

PCT(Power Cycling Test) ：各種Pattern異常斷電測試，測試SSD算法的斷電處理和重建，驗證異常斷電時對數(shù)據(jù)的完整性。

BIT(Burn-In Test)：驗證各種Pattern順序或隨機讀/寫是否正常，以及各種Pattern對媒介的響。            

MDT(Multi-Drive Test) ：驗證SSD是否支持ATA1-8規(guī)格的命令，將對SSD發(fā)送所支持命令，并確認(rèn)結(jié)果有無問題。

FDS(Full Drive Scan) ：對SSD進行的全盤讀寫操作，驗證映射表是否正確；

軟件詳細(xì)功能

詳細(xì)功能分為如下四部分

一、PCT(Power Cycling Test)

各種 Pattern 的配置；

讀/寫 數(shù)據(jù)大小的配置；

順序與隨機讀寫比對配置；

驗證異常斷電與正常斷電數(shù)據(jù)完整性；

腳本控制上電與斷電時間；

指定LBA的數(shù)據(jù)讀/寫操作；

測試SSD算法的斷電處理與重建；                              

測試 UPS 穩(wěn)定性與電容負(fù)載需求值；

測試盤啟動的時間；

測試產(chǎn)品電源管理功能的穩(wěn)定性；

測試盤的 UPS 老化測試；

高溫下測試板級電子元器件焊接情況；

可以用于驗證市面上斷電保護SSD產(chǎn)品的情況；

驗證SSD對各種主板的兼容性；

Trim的驗證；

自動保存測試Log并且定時上傳；

二、BIT(Burn-In Test)

驗證各種Patten的順序讀/寫比對與性能；

驗證各種Patten的隨機讀/寫比對與性能；

統(tǒng)計各種Pattern對媒介的影響；

產(chǎn)品各種Patten的老化測試；

全盤并且所有Pattern自動測試；

Sector數(shù)和Pattern可以腳本配置；

可以設(shè)定時間來測試讀/寫比對驗證；

測試過程中統(tǒng)計新增壞塊；

指定Frame大小，測試產(chǎn)品功能的全面性；

驗證DDR、Flash與接口的數(shù)據(jù)通路；

驗證SSD的隨機讀/寫性能穩(wěn)定性；

自動保存測試Log并且定時上傳；

三、MDT(Multi Drive Test)

Sector數(shù)可配置；

LBA28與 LBA48可配置；

驗證產(chǎn)品接口協(xié)議的兼容性；

驗證產(chǎn)品對協(xié)議規(guī)定命令支持情況，并對其進行統(tǒng)計；

可以指定命令對產(chǎn)品進行相關(guān)測試；

驗證 DATA命令的讀/寫操作，并且對數(shù)據(jù)進行比對；

驗證No-Data命令支持的情況；

自動保存測試Log并且定時上傳；

四、FDS(Full Drive Scan)

全盤讀寫操作，驗證盤映射表的正確性，并進行比對操作；

Pattern和 Sector數(shù)可配置；

可配置時間進行讀/寫操作；篩出 Flash的壞塊與Weak Block；

驗證 DDR與Flash的所有 Block；

驗證SSD算法映射表是否正確；

自動保存測試Log并且定時上傳；