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PCIE M.2 4片寬溫BIT老化箱
整機(jī)主要有如下一些特性:
l 支持研發(fā)微小型定制化,例如 4片、8片等等;
l 支持(-70 度~+180度)的測(cè)試;
l 支持異常斷電測(cè)試和老化測(cè)試;
l 支持自動(dòng)化溫控測(cè)試;
l 支持全部采用軟體進(jìn)行智能化控制測(cè)試;
l 支持測(cè)試測(cè)試軟體的定制化;
l 支持箱內(nèi)風(fēng)速與溫度均衡;
l 支持快速升降溫控制;
l 支持PCIE老化的定制化研發(fā);
l 支持網(wǎng)絡(luò)化控制,可以異地控制測(cè)試并看測(cè)試結(jié)果;
l 支持APP遠(yuǎn)程控制測(cè)試;
整機(jī)主要組成部分
1 整機(jī)測(cè)試系統(tǒng)主要包括高低溫箱、PC 主板、PM 板、片板、FPGA 板卡、產(chǎn)品工裝、后倉(cāng)
TEST PC 和測(cè)試軟體等等.
硬體部分
硬件部分主要由如下幾部分組成:
l 定制化高低溫試驗(yàn)箱;
l 壓縮機(jī)機(jī)組;
lTEST PC 測(cè)試主板;
l PM 及內(nèi)置 PCIE 測(cè)試板;
l 整機(jī)電路及電源控制部件;
l 測(cè)試用專用 PCIE 治具
l 千兆網(wǎng)路交換機(jī)
l 測(cè)試專用絕緣板
l 耐高低溫專用硅膠密封件
智能化測(cè)試系統(tǒng)概述
智能化測(cè)試系統(tǒng)采用Win10操作系統(tǒng)平臺(tái),通過開放式腳本模式,可以任意的修改高低溫箱的溫度及PCIE產(chǎn)品的測(cè)試項(xiàng)目,通過LINUX系統(tǒng)和網(wǎng)路交換機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸,實(shí)現(xiàn)一鍵式操作,網(wǎng)絡(luò)化控制,節(jié)省人工,實(shí)現(xiàn)智能化數(shù)據(jù)管理,永久保留測(cè)試結(jié)果。
軟硬一體測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)
PCIE的測(cè)試設(shè)備主要支持PCIE產(chǎn)品功能與協(xié)議測(cè)試,其PCIE產(chǎn)品測(cè)試單獨(dú)一臺(tái)高低溫箱原理結(jié)構(gòu)如下圖所示:
其原理結(jié)構(gòu)主要特性如下:

l Chamber 可視用途來(lái)訂制化大小型;
l 控制電路板:每片PC主板上使用的是1托 4+4 形式,測(cè)試程序由公司自主研發(fā)及維護(hù);
l 測(cè)試項(xiàng):測(cè)試項(xiàng)主要包括多種掉電測(cè)試、大量讀寫比對(duì)測(cè)試、協(xié)議測(cè)試等等;
l 控制平臺(tái):通過Console采用腳本形式控制整個(gè)測(cè)試;
l QMS 服務(wù)器:所有測(cè)試結(jié)果,實(shí)時(shí)傳送回QMS,永久性保存;
l 網(wǎng)絡(luò)接口:可以通過網(wǎng)絡(luò)異地控制,并且客戶實(shí)時(shí)購(gòu)買產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試狀況;
自主研發(fā)硬件部分
自主研發(fā)主要分為如下幾部分:
l 高低溫試驗(yàn)箱:通常用于C-temp SSD(-70 度~+180 度),在大量生產(chǎn)期間,可以分析生產(chǎn)不良率的分布狀況,采用高低溫測(cè)試方式,并由QA制定合理的抽檢比例來(lái)進(jìn)行Chamber測(cè)試以確認(rèn)質(zhì)量。
l PCIE NVME和M.2盒產(chǎn)品測(cè)試架:全鋁合金CNC電腦鑼加工,并且表面發(fā)黑陽(yáng)極處理。
l 計(jì)算機(jī)硬件:測(cè)試主板專門設(shè)計(jì)了一個(gè)后倉(cāng)區(qū),內(nèi)置了 4 片電腦主板及 4 個(gè)電源及硬盤,搭建平臺(tái)交
換機(jī) 1 個(gè),主板放置絕緣架 4 層。
l 軟件部分:主控PCIE智能化操作平臺(tái),各種M.2的測(cè)試功能,后倉(cāng)顯示器1臺(tái),顯示轉(zhuǎn)換器1套。
l M.2 測(cè)試板:訂制PCIE測(cè)試片板16塊,SLIMLINE SAS高速線纜64條,訂制密封硅膠16套。
PCIe Gen 4 NVMe SSD 系統(tǒng)概述
l SSD 的智能化測(cè)試系統(tǒng)的控制電腦采用Win10操作系統(tǒng)平臺(tái),通過B/S架構(gòu)Web管理界面或者遠(yuǎn)程命令行,可以任意的修改測(cè)試溫箱的溫度及NVMe產(chǎn)品的測(cè)試項(xiàng)目,通過連接Linux測(cè)試PC內(nèi)部的測(cè)試服務(wù),實(shí)現(xiàn)一鍵式操作,網(wǎng)絡(luò)化控制,節(jié)省人工,實(shí)現(xiàn)智能化數(shù)據(jù)管理,永久保留測(cè)試結(jié)果。
l 軟硬一體測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)
l 該測(cè)試設(shè)備主要支持針對(duì)PCIe Gen4 NVMe SSD產(chǎn)品的性能/功能與可靠性測(cè)試,兼容 PCIe Gen 1/2/3 NVMe SSD,其中 Linux 測(cè)試主機(jī)內(nèi)置測(cè)試軟件提供一系列測(cè)試腳本,針對(duì)客戶的各種常用具體使用 場(chǎng)景,同事,我們也可以幫助客戶定制測(cè)試腳本。測(cè)試軟件軟件主要功能如下:
- NVMe 協(xié)議測(cè)試
l 針對(duì)NVMe協(xié)議的文檔,我們開發(fā)了完整的測(cè)試腳本,覆蓋了PCIe配置空間寄存器、NVMe寄存器、
Admin 命令、IO 命令、PRP、隊(duì)列、中斷、初始化等方面。
l 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
l 基于 IOWorker,我們提供了非常靈活和穩(wěn)定的性能測(cè)試以及可靠性測(cè)試方案,覆蓋了 SNIA 和 JEDEC 等標(biāo)準(zhǔn)定義的各種不同的讀寫模式和測(cè)試流程,并能統(tǒng)計(jì) IO 的帶寬、延遲、一致性等各種數(shù)據(jù)。利 用 Python 的第三方圖形庫(kù),我們可以輸出專業(yè)的測(cè)試圖表和報(bào)告。
l 研發(fā)回歸測(cè)試
l SSD 開發(fā)和測(cè)試工程師利用我們提供的 Python 接口和各種測(cè)試模板,可以快速構(gòu)造出新的測(cè)試腳本, 幫助開發(fā)工程師復(fù)現(xiàn)和定位問題。利用第三方 CI 工具,用戶可以實(shí)現(xiàn)敏捷開發(fā)的流程。
l 錯(cuò)誤注入測(cè)試
l 借助第三方電源控制設(shè)備,我們能的測(cè)試腳本可以在 PCIe 數(shù)據(jù)鏈路上向 NVMe 設(shè)備注入各種錯(cuò)誤, 可以實(shí)現(xiàn)異常掉電、熱插拔、信號(hào)毛刺、電壓拉偏等操作。該軟件也可以注入各種非法的命令和寄存 器訪問,配合不同的 IOWorker,實(shí)現(xiàn)對(duì) NVMe 設(shè)備的大壓力測(cè)試。(該部分測(cè)試建議常溫)
l Chamber 可視用途來(lái)訂制化大小型;
l 測(cè)試主板:每片測(cè)試 PC 主板使用的是 1 拖 4+4 形式,在測(cè)試底板上面提供 16 個(gè) PCIe Gen 4 M.2 SSD 接口,目前測(cè)試方案暫時(shí)使用其中 4 個(gè) M.2+4,保證每個(gè)盤片不全線速打滿流量;
l 測(cè)試項(xiàng):測(cè)試項(xiàng)主要包括多種掉電測(cè)試、大量讀寫比對(duì)測(cè)試、協(xié)議測(cè)試等等;
l 控制電腦:通過 B/S 架構(gòu) Web 界面或者腳本形式控制整個(gè)測(cè)試;
l QMS 服務(wù)器:所有測(cè)試結(jié)果,實(shí)時(shí)傳送回 QMS,永久性保存;
l 網(wǎng)絡(luò)接口:可以通過網(wǎng)絡(luò)異地控制,并且客戶實(shí)時(shí)獲得購(gòu)買產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試狀況;
產(chǎn)品詳情
熱門產(chǎn)品
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電磁式振動(dòng)臺(tái)YC X 300
電磁式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)在實(shí)驗(yàn)室條件下模擬振動(dòng)環(huán)境,測(cè)試各種振動(dòng)試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域中的沖擊強(qiáng)度和可靠性。¥ 0.00Buy now
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HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)
高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷)等,加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)壽命試驗(yàn)時(shí)間的機(jī)器。
用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。¥ 0.00Buy now
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SATA 12片寬溫BIT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高溫RDT老化測(cè)試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測(cè)試,實(shí)時(shí)測(cè)控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的電流與功耗。¥ 0.00Buy now
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SATA 6片寬溫BIT老化柜
應(yīng)用于SATA產(chǎn)品研發(fā)階段數(shù)量少的高低溫RDT老化測(cè)試。
符合SATA2.0、SATA2.5、SATA3.0高溫帶電老化測(cè)試,實(shí)時(shí)測(cè)控表面老化溫度。
可擴(kuò)展實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的電流與功耗。¥ 0.00Buy now
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PCIE-M.2 512片RDT老化柜
可用于SSD產(chǎn)品PCIE-M.2盤進(jìn)行RDT老化測(cè)試, "PID溫度控制器,配SSR輸出; 超溫保護(hù),接地保護(hù),風(fēng)機(jī)過載保護(hù); 雙開門,大面積鋼化玻璃觀察窗,可觀察工作室狀況,內(nèi)置保溫層; 一拖八PCIE接口獨(dú)立開關(guān)控制板卡; 履帶式抽拉抽屜,12V 360W控制電源,耐高溫線;¥ 0.00Buy now
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Flash-Nand 8顆性能測(cè)試FPGA板卡
測(cè)試產(chǎn)品通道數(shù)量:8 顆。
產(chǎn)品兼容:三星,東芝,海力士,長(zhǎng)江存儲(chǔ),鎂光。¥ 0.00Buy now