Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化箱

產品說明

Flash-Nand 8顆寬溫BIT老化柜針對Flash 芯片異常斷電測試、Flash 芯片讀寫測試、Flash 芯片 ATA1-8指令測試、Flash 芯片算法映射表驗證等功能進行檢測。

整機概述

1.1 整機主要有如下一些特性：

   1、(-40度至+150度)的測試;

   2、異常斷電測試和老化測試;

   3、自動化溫控測試;

   4、全部采用軟體進行智能化控制測試;

   5、測試軟件的定制化;

   6、箱內風速與溫度均衡;

   7、快速升溫控制;

   8、網絡化控制，可以異地控制測試并看測試結果;

   9、APP遠程控制測試;

1.2 整機主要組成部分：

整機測試系統主要包括高低溫箱、PC主板、PM板和測試軟件等。

1.3 硬體部分：

硬件部分主要由如下幾部分組成：

測試箱外殼; PC主板; PM板; 電源控制部件;

1.4 軟體部分：

軟體部分主要由如下部分組成：

? 基礎測試功能：芯片信息識別、 實時功耗測試、 誤碼率測試、 平均擦除時間測試、 平均編程時間測試、 壞塊數測試、 計算剩余可用容量、 閃存可靠性等級劃分、 剩余壽命等級預測、 一鍵導出測試報告。

? 實驗測試功能： 實際可擦寫次數測試、 閃存錯誤數變化繪圖、 頁面錯誤數變化測試、 塊擦除時間變化繪圖、 頁編程時間變化繪圖、 一鍵導出測試報告。

? 高階測試功能： 測試電壓拉偏（read-retry）、 設置測試范圍（塊間隔）、 ECC 設定、 挑選測試 pattern Read-retry 數據保持、 讀干擾、 寬溫篩選、 篩選目標溫度下可正常工作的閃存顆粒、 分 Bin 快速識別顆粒的原始壞塊、并計算剩余可用容量和等級、 數據保持、 高溫加速模型、模擬預測 Nand 在常溫下是否可達到目標保持時間、 讀干擾、 測試閃存顆粒抗讀干擾的能力、 高溫 PE 分階段測試待測顆粒高溫下耐擦寫能力。